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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V
Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985
Inhaltsverzeichnis
I Retrospective.- II Fundamentals.- III Symposium: Detection of Sputtered Neutrals.- IV Detection Limits and Quantification.- V Instrumentation.- VI Techniques Closely Related to SIMS.- VII Combined Techniques and Surface Studies.- VIII Ion Microscopy and Image Analysis.- IX Depth Profiling and Semiconductor Applications.- X Metallurgical Applications.- XI Biological Applications.- XII Geological Applications.- XIII Symposium: Particle-Induced Emission from Organics.- XIV Organic Applications Including Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry.- Index of Contributors.
ISBN-13:
9783642827242
Veröffentl:
2012
Seiten:
564
Autor:
Alfred Benninghoven
Serie:
44, Springer Series in Chemical Physics
eBook Typ:
PDF
eBook Format:
EPUB
Kopierschutz:
1 - PDF Watermark
Sprache:
Englisch
96,29 €*
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